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三箱高低溫沖擊箱，冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于考核產(chǎn)品（整機(jī)）、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)軌蛄私庠囼?yàn)樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來的影響。
三高低溫箱，冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)指標(biāo)：
機(jī)型 | JS-GDCJ-100/150/200/500B |
測試環(huán)境條件 | 環(huán)境溫度為+25℃、試驗(yàn)箱內(nèi)無試樣條件下 |
測試方法 | GB/T 5170.2-1996 溫度試驗(yàn)設(shè)備 |
高溫室 | |
預(yù)溫度范圍 | RT～+200℃ |
升溫時(shí)間 | RT+10℃→+200℃ ≤40min 注：升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能 |
低溫室 | |
預(yù)冷溫度范圍 | RT~-70℃ |
降溫時(shí)間 | RT → -70℃≤60min 注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能 |
試驗(yàn)室（試樣區(qū)） | |
試驗(yàn)方式 | 氣動(dòng)風(fēng)門切換 3 溫區(qū)沖擊試驗(yàn)條件（高溫-常溫-低溫） 2 溫區(qū)沖擊試驗(yàn)條件（高溫-低溫） |
溫度沖擊范圍 | -55℃～ +80℃ |
溫度波動(dòng)度 | ±0.5℃ |
溫度偏差 | ±2.0℃ |
溫度恢復(fù)時(shí)間 | ≤5min |
恢復(fù)條件 | 試樣：塑料封裝集成電路（均布）傳感器位置：試樣的上風(fēng)側(cè) 高溫曝露： RT~+150℃：≥30分鐘 環(huán)境溫度曝露：常溫 低溫曝露： RT~-55℃：≥30分鐘 試樣重量：4.5kg（如需要放置重的試樣，請?zhí)崆案嬷?/span> |
制冷方式 | 水冷 |
1.GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)
2.GJB 360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)
3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)
5.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
三箱高低溫沖擊箱，冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途：
三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)箱適用于考核產(chǎn)品（整機(jī)）、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)軌蛄私庠囼?yàn)樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間、以及試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)等因素。
